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日本OTSUKA玉崎科學供應大冢FE-300光學膜厚量測儀$n日本OTSUKA玉崎科學供應大冢光學膜厚量測儀$n這是一款小型、低成本的膜厚計,采用高精度光學干涉法測量膜厚,操作簡單。$n我們采用一體式外殼,將必要的設備存儲在主體內,實現穩定的數據采集。$n盡管價格低廉,但也可以通過獲得絕對反射率來分析光學常數。