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實現極弱近紅外區域測量光譜輻射計SR-NIR

更新時間:2025-02-17      點擊次數:798

關于此產品

概述

近年來,“近紅外區域"測量的需求不斷增加,尤其是在顯示器和照明市場。此外,沒有測量儀器可以輕松且高精度地測量這一點。鑒于這種情況,我們基于SR系列光譜輻射計所積累的技術,開發了“SR-NIR近紅外光譜輻射計"。該產品與SR系列光譜輻射計配合使用,可以測量380nm至1030nm的光譜輻射度。

■ 特點

- 可測量FPD發射的微弱近紅外光- 實現近紅外區域(600 至 1,030 nm)光譜分布的高精度測量?與本公司的SR系列光譜輻射計組合使用時,可以測量從可見光到近紅外(380至1030nm)的光譜分布。

主要應用

?觀察各種FPD的近紅外輸出?Ne、Ar發射線輸出觀察- 光學薄膜的近紅外透射特性評價等。- 其他光源的近紅外光譜測量


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